单价：    499.8万元

仪器型号：JEM-2100

生产厂家：日本电子

主要技术指标：

点分辨率:0.23nm;线分辨率：0.14nm；焦距：2.3mm；球差系数：1.0mm；色差系数1.4mm：焦距最小步长：1.5nm；样品室：样品倾斜角度±35^o；样品平移（X,Y）2mm；样品平移（Z）0.4mm。

应用范围：材料微观组织形貌的观察；位错、各种缺陷的观察；析出相的观察、电子衍射；微区的取向、晶体结构分析，相界面的观察和分析；微区成份分析。